اکسپرس 24
کتاب جامع تحلیل و عیب‌یابی سخت‌افزار با استاندارد JTAG (IEEE 1149.1)

کتاب جامع تحلیل و عیب‌یابی سخت‌افزار با استاندارد JTAG (IEEE 1149.1)

تگ‌ها: آموزش سخت‌افزار استاندارد IEEE 1149.1 برنامه‌نویسی سخت‌افزار پروتکل JTAG تست مدارات دیجیتال دیباگینگ الکترونیک سیستم‌های نهفته عیب‌یابی سخت‌افزار معماری پردازنده مهندسی بردهای الکترونیکی

انتخاب پلن

انتخاب پلن برای ادامه خرید الزامی است.

پرداخت اقساطی
در صورت خرید اقساطی هر قسط: 62,488 تومان
۴ قسط ماهانه. بدون سود، چک و ضامن.
پرداخت اقساطی با دیجی‌پی پرداخت اقساطی با ترب‌پی

📚 محتوای این محصول آموزشی (پکیج کامل)

💡 این محصول یک نسخهٔ کامل و جامع است

تمامی محتوای آموزشی این کتاب در قالب یک بسته‌ی کامل و یکپارچه ارائه می‌شود و شامل تمام نسخه‌ها و فایل‌های موردنیاز برای یادگیری است.

🎁 محتویات کامل بسته دانلودی

🎯 این بسته یک دورهٔ آموزشی کامل و چندلایه است؛ شامل کتاب‌ها، تمرین‌ها و خودآزمایی .

ℹ️ نکات مهم هنگام خرید

  • این محصول به صورت فایل دانلودی کامل ارائه می‌شود و نسخهٔ چاپی ندارد.
  • توجه: لینک‌های اختصاصی دوره طی حداکثر 24 ساعت پس از ثبت سفارش ارسال می‌شوند.
  • دقت کنید لینک ها به شماره موبایل شما ارسال می شوند. پس در ارائه شماره موبایل صحیح دقت کنید.
  • برای راهنمایی در مورد نحوه دانلود به شماره 09395106248 پیامک دهید یا تماس بگیرید. (ایده آل ترین گزینه ارسال پیام در یکی از پیام رسان ها به همین شماره است تا سریعا لینک های کتاب همانجا برای شما ارسال گردد.)
  • اگر پرداخت انجام شده ولی بعد از 24 ساعت هنوز لینک‌ها را دریافت نکرده‌اید، نام و نام خانوادگی و نام محصول را پیامک کنید تا لینک‌ها دوباره ارسال شوند.

💬 راه‌های ارتباطی پشتیبانی:
واتس‌اپ یا هر پیام رسان داخلی یا پیامک: 09395106248
تلگرام: @ma_limbs

🎓 دوره آموزشی جامع

📚 اطلاعات دوره

عنوان دوره: دوره جامع تحلیل و عیب‌یابی سخت‌افزار با استاندارد JTAG (IEEE 1149.1)

موضوع کلی: مهندسی سخت‌افزار و سیستم‌های نهفته

موضوع میانی: پروتکل‌های تست و عیب‌یابی بردهای الکترونیکی

📋 سرفصل‌های دوره (100 موضوع)

  • 1. مبانی و تاریخچه استاندارد IEEE 1149.1
  • 2. معماری پایه و اجزای تشکیل‌دهنده JTAG
  • 3. آشنایی با پین‌های استاندارد TMS TCK TDI TDO
  • 4. نقش و عملکرد پین اختیاری TRST
  • 5. بررسی ماشین حالت دسترسی به تست TAP Controller
  • 6. تحلیل نمودار انتقال وضعیت در TAP
  • 7. آشنایی با ثبات‌های دسترسی در JTAG
  • 8. عملکرد ثبات دستورالعمل Instruction Register
  • 9. کارکرد ثبات‌های داده در استاندارد Boundary Scan
  • 10. نحوه عملکرد زنجیره اسکن Boundary Scan Chain
  • 11. مفهوم سلول‌های اسکن Boundary Scan Cells
  • 12. نحوه اتصال قطعات در زنجیره JTAG
  • 13. بررسی سطوح ولتاژ و استانداردهای سیگنالینگ
  • 14. ابزارهای سخت‌افزاری و پروگرمرهای رابط JTAG
  • 15. نصب و راه‌اندازی درایورهای رابط JTAG در ویندوز و لینوکس
  • 16. معرفی نرم‌افزارهای متن‌باز تحلیل JTAG
  • 17. فرمان‌های پایه در استاندارد JTAG
  • 18. دستورات عمومی EXTEST و SAMPLE و PRELOAD
  • 19. پیاده‌سازی تست اتصال کوتاه و قطعی در برد
  • 20. استفاده از JTAG برای برنامه‌ریزی حافظه‌های فلش
  • 21. عیب‌یابی مدارات دیجیتال با استفاده از اسکن مرزی
  • 22. استخراج کدهای شناسایی قطعه با دستور IDCODE
  • 23. نحوه خواندن وضعیت پین‌ها در حین اجرای مدار
  • 24. تکنیک‌های تست غیرمخرب بردهای الکترونیکی
  • 25. شناسایی زنجیره‌های اسکن در بردهای پیچیده
  • 26. آموزش کار با نرم‌افزار OpenOCD برای عیب‌یابی
  • 27. پیکربندی فایل‌های کانفیگ در محیط‌های توسعه
  • 28. رفع خطاهای رایج در برقراری ارتباط JTAG
  • 29. تحلیل زمان‌بندی سیگنال‌ها با استفاده از تحلیل‌گر منطقی
  • 30. شبیه‌سازی ارتباط JTAG در محیط‌های مجازی
  • 31. بررسی استاندارد IEEE 1149.7 برای ارتباطات کم‌تعداد پین
  • 32. تفاوت‌های JTAG با سایر پروتکل‌های دیباگ نظیر SWD
  • 33. امنیت در پروتکل JTAG و روش‌های محافظت از کدهای حساس
  • 34. روش‌های غیرفعال‌سازی پورت JTAG در محصولات نهایی
  • 35. عیب‌یابی بردهای چند پردازنده‌ای با زنجیره مشترک
  • 36. کاربرد JTAG در تولید انبوه و تست‌های خط تولید
  • 37. تست سلامت تراشه‌های FPGA با استفاده از JTAG
  • 38. بررسی خطاهای رایج در طراحی PCB برای مسیرهای JTAG
  • 39. تکنیک‌های عیب‌یابی در بردهای با تراکم بالا
  • 40. اصول پیاده‌سازی تست‌های خودکار Boundary Scan
  • 41. استفاده از اسکریپت‌نویسی برای خودکارسازی تست‌ها
  • 42. آشنایی با فایل‌های BSDL و ساختار آن‌ها
  • 43. نحوه استخراج و تفسیر فایل‌های BSDL از تولیدکنندگان
  • 44. عیب‌یابی تراشه‌های BGA با کمک استاندارد JTAG
  • 45. مدیریت توان مصرفی در حین تست‌های اسکن
  • 46. بررسی محدودیت‌های طول کابل و تأثیر آن بر سیگنال
  • 47. روش‌های عیب‌یابی در محیط‌های دارای نویز الکترومغناطیسی
  • 48. ارائه گزارش نهایی از تست‌های انجام شده بر روی برد
  • 49. پروژه عملی: عیب‌یابی یک برد پردازنده نهفته با استاندارد JTAG

📚 محتوای این محصول آموزشی (پکیج کامل)

💡 این محصول یک نسخهٔ کامل و جامع است

تمامی محتوای آموزشی این کتاب در قالب یک بسته‌ی کامل و یکپارچه ارائه می‌شود و شامل تمام نسخه‌ها و فایل‌های موردنیاز برای یادگیری است.

🎁 محتویات کامل بسته دانلودی

🎯 این بسته یک دورهٔ آموزشی کامل و چندلایه است؛ شامل کتاب‌ها، تمرین‌ها و خودآزمایی .

ℹ️ نکات مهم هنگام خرید

  • این محصول به صورت فایل دانلودی کامل ارائه می‌شود و نسخهٔ چاپی ندارد.
  • توجه: لینک‌های اختصاصی دوره طی حداکثر 24 ساعت پس از ثبت سفارش ارسال می‌شوند.
  • دقت کنید لینک ها به شماره موبایل شما ارسال می شوند. پس در ارائه شماره موبایل صحیح دقت کنید.
  • برای راهنمایی در مورد نحوه دانلود به شماره 09395106248 پیامک دهید یا تماس بگیرید. (ایده آل ترین گزینه ارسال پیام در یکی از پیام رسان ها به همین شماره است تا سریعا لینک های کتاب همانجا برای شما ارسال گردد.)
  • اگر پرداخت انجام شده ولی بعد از 24 ساعت هنوز لینک‌ها را دریافت نکرده‌اید، نام و نام خانوادگی و نام محصول را پیامک کنید تا لینک‌ها دوباره ارسال شوند.

💬 راه‌های ارتباطی پشتیبانی:
واتس‌اپ یا هر پیام رسان داخلی یا پیامک: 09395106248
تلگرام: @ma_limbs

نظرات

هنوز نظری ثبت نشده است.

وارد شوید تا نظر ثبت کنید.