کتاب صوتی تسلط بر ردیابی پشته (Stack Tracing) و رفع خطاهای نرم‌افزاری در محیط‌های عملیاتی

🎓 دوره آموزشی جامع

📚 اطلاعات دوره

عنوان دوره: دوره تسلط بر ردیابی پشته (Stack Tracing) و رفع خطاهای نرم‌افزاری در محیط‌های عملیاتی

موضوع کلی: مهندسی نرم‌افزار و توسعهٔ سیستم‌های پیچیده

موضوع میانی: ابزارها و روش‌های عیب‌یابی و تحلیل عملکرد برنامه‌ها در C++

📋 سرفصل‌های دوره

• 1. مبانی مدیریت حافظه و ساختار پشته در زبان برنامه‌نویسی ++C
• 2. آشنایی با مفاهیم فراخوانی توابع و قاب‌های پشته
• 3. بررسی نحوه تشکیل Stack Frame در معماری‌های x86 و x64
• 4. نقش اشاره‌گر پشته و اشاره‌گر مبنا در تحلیل اجرای برنامه
• 5. تفاوت‌های ردیابی پشته در حالت‌های Debug و Release
• 6. روش‌های استخراج آدرس‌های بازگشتی از حافظه
• 7. کاربرد جداول نمادها و فایل‌های PDB در تحلیل خطا
• 8. استفاده از کتابخانه استاندارد برای پیمایش پشته
• 9. پیاده‌سازی مکانیزم‌های ثبت رخدادهای بحرانی در سیستم‌های عملیاتی
• 10. تحلیل وضعیت رجیسترها هنگام وقوع استثنا
• 11. مدیریت سیگنال‌ها و وقایع سیستم‌عامل در محیط لینوکس
• 12. کار با رابط‌های برنامه‌نویسی برای دسترسی به آدرس‌های بازگشتی
• 13. تکنیک‌های رمزگشایی آدرس‌های حافظه به نام توابع و خطوط کد
• 14. پیاده‌سازی کلاس‌های سفارشی برای تولید گزارش‌های ردیابی
• 15. روش‌های مدیریت خطا در برنامه‌های چندنخی و موازی
• 16. بررسی اثرات جانبی ردیابی پشته بر عملکرد سیستم
• 17. بهینه‌سازی سربار حافظه هنگام جمع‌آوری اطلاعات ردیابی
• 18. تحلیل فایل‌های Core Dump برای شناسایی خطاهای زمان اجرا
• 19. استفاده از ابزارهای بومی سیستم‌عامل برای تحلیل وضعیت برنامه
• 20. بررسی چالش‌های ردیابی در کدهای بهینه‌شده توسط کامپایلر
• 21. تکنیک‌های مدیریت حافظه پویا و شناسایی نشت حافظه
• 22. روش‌های پیشگیری از فساد پشته و سرریز بافر
• 23. شناسایی بن‌بست‌ها با استفاده از تحلیل وضعیت رشته‌های اجرایی
• 24. یکپارچه‌سازی ابزارهای ردیابی در چرخه توسعه نرم‌افزار
• 25. تست و اعتبارسنجی مکانیزم‌های ثبت خطا در محیط‌های عملیاتی
• 26. استانداردهای گزارش‌نویسی خطاهای نرم‌افزاری در پروژه‌های صنعتی
• 27. امنیت در ثبت و نگهداری لاگ‌های سیستم
• 28. مستندسازی خطاهای پیچیده برای تیم‌های پشتیبانی فنی
• 29. بررسی ابزارهای متن‌باز برای تحلیل و بصری‌سازی پشته
• 30. نکات پیشرفته در عیب‌یابی سیستم‌های بلادرنگ و حساس