فلش‌کارت‌های آموزشی جامع تحلیل و عیب‌یابی سخت‌افزار با استاندارد JTAG (IEEE 1149.1)

🎓 دوره آموزشی جامع

📚 اطلاعات دوره

عنوان دوره: دوره جامع تحلیل و عیب‌یابی سخت‌افزار با استاندارد JTAG (IEEE 1149.1)

موضوع کلی: مهندسی سخت‌افزار و سیستم‌های نهفته

موضوع میانی: پروتکل‌های تست و عیب‌یابی بردهای الکترونیکی

📋 سرفصل‌های دوره

• 1. مبانی و تاریخچه استاندارد IEEE 1149.1
• 2. معماری پایه و اجزای تشکیل‌دهنده JTAG
• 3. آشنایی با پین‌های استاندارد TMS TCK TDI TDO
• 4. نقش و عملکرد پین اختیاری TRST
• 5. بررسی ماشین حالت دسترسی به تست TAP Controller
• 6. تحلیل نمودار انتقال وضعیت در TAP
• 7. آشنایی با ثبات‌های دسترسی در JTAG
• 8. عملکرد ثبات دستورالعمل Instruction Register
• 9. کارکرد ثبات‌های داده در استاندارد Boundary Scan
• 10. نحوه عملکرد زنجیره اسکن Boundary Scan Chain
• 11. مفهوم سلول‌های اسکن Boundary Scan Cells
• 12. نحوه اتصال قطعات در زنجیره JTAG
• 13. بررسی سطوح ولتاژ و استانداردهای سیگنالینگ
• 14. ابزارهای سخت‌افزاری و پروگرمرهای رابط JTAG
• 15. نصب و راه‌اندازی درایورهای رابط JTAG در ویندوز و لینوکس
• 16. معرفی نرم‌افزارهای متن‌باز تحلیل JTAG
• 17. فرمان‌های پایه در استاندارد JTAG
• 18. دستورات عمومی EXTEST و SAMPLE و PRELOAD
• 19. پیاده‌سازی تست اتصال کوتاه و قطعی در برد
• 20. استفاده از JTAG برای برنامه‌ریزی حافظه‌های فلش
• 21. عیب‌یابی مدارات دیجیتال با استفاده از اسکن مرزی
• 22. استخراج کدهای شناسایی قطعه با دستور IDCODE
• 23. نحوه خواندن وضعیت پین‌ها در حین اجرای مدار
• 24. تکنیک‌های تست غیرمخرب بردهای الکترونیکی
• 25. شناسایی زنجیره‌های اسکن در بردهای پیچیده
• 26. آموزش کار با نرم‌افزار OpenOCD برای عیب‌یابی
• 27. پیکربندی فایل‌های کانفیگ در محیط‌های توسعه
• 28. رفع خطاهای رایج در برقراری ارتباط JTAG
• 29. تحلیل زمان‌بندی سیگنال‌ها با استفاده از تحلیل‌گر منطقی
• 30. شبیه‌سازی ارتباط JTAG در محیط‌های مجازی
• 31. بررسی استاندارد IEEE 1149.7 برای ارتباطات کم‌تعداد پین
• 32. تفاوت‌های JTAG با سایر پروتکل‌های دیباگ نظیر SWD
• 33. امنیت در پروتکل JTAG و روش‌های محافظت از کدهای حساس
• 34. روش‌های غیرفعال‌سازی پورت JTAG در محصولات نهایی
• 35. عیب‌یابی بردهای چند پردازنده‌ای با زنجیره مشترک
• 36. کاربرد JTAG در تولید انبوه و تست‌های خط تولید
• 37. تست سلامت تراشه‌های FPGA با استفاده از JTAG
• 38. بررسی خطاهای رایج در طراحی PCB برای مسیرهای JTAG
• 39. تکنیک‌های عیب‌یابی در بردهای با تراکم بالا
• 40. اصول پیاده‌سازی تست‌های خودکار Boundary Scan
• 41. استفاده از اسکریپت‌نویسی برای خودکارسازی تست‌ها
• 42. آشنایی با فایل‌های BSDL و ساختار آن‌ها
• 43. نحوه استخراج و تفسیر فایل‌های BSDL از تولیدکنندگان
• 44. عیب‌یابی تراشه‌های BGA با کمک استاندارد JTAG
• 45. مدیریت توان مصرفی در حین تست‌های اسکن
• 46. بررسی محدودیت‌های طول کابل و تأثیر آن بر سیگنال
• 47. روش‌های عیب‌یابی در محیط‌های دارای نویز الکترومغناطیسی
• 48. ارائه گزارش نهایی از تست‌های انجام شده بر روی برد
• 49. پروژه عملی: عیب‌یابی یک برد پردازنده نهفته با استاندارد JTAG