کتاب اصول و روش‌های آزمون پیشرفته در سامانه‌های مبتنی بر چیپلت (Chiplet-based SiP) با فرمت AZW3 برای کتابخوان کیندل و فرمت EPUB

🎓 دوره آموزشی جامع

📚 اطلاعات دوره

عنوان دوره: دوره اصول و روش‌های آزمون پیشرفته در سامانه‌های مبتنی بر چیپلت (Chiplet-based SiP)

موضوع کلی: مهندسی برق و الکترونیک پیشرفته

موضوع میانی: طراحی و تولید ریزتراشه‌ها و سامانه‌های مجتمع (System-in-Package)

📋 سرفصل‌های دوره (100 موضوع)

• 1. مبانی و معماری سامانه‌های مجتمع مبتنی بر چیپلت
• 2. آشنایی با مفاهیم پایه در طراحی تراشه‌های سه‌بعدی
• 3. چالش‌های آزمون در سامانه‌های مجتمع و بسته‌بندی‌های پیشرفته
• 4. ساختار و سلسله‌مراتب آزمون در چیپلت‌ها
• 5. استانداردهای بین‌المللی در تست و ارزیابی مدارات مجتمع
• 6. مدل‌سازی نقص‌ها در چیپلت‌ها و اتصالات میان‌تراشه‌ای
• 7. طراحی برای آزمون‌پذیری در ساختارهای ناهمگون
• 8. مکانیسم‌های دسترسی به تست در معماری‌های مبتنی بر شبکه روی تراشه
• 9. روش‌های تست اتصال بین چیپلت‌ها در بسته‌بندی‌های سه‌بعدی
• 10. تکنیک‌های آزمون پیش از بسته‌بندی و غربالگری چیپلت‌ها
• 11. استراتژی‌های آزمون پس از مونتاژ در سامانه‌های مجتمع
• 12. مدیریت حافظه‌های داخلی و تست تراشه‌های حافظه در SiP
• 13. تست مدارهای آنالوگ و سیگنال مختلط در بسته‌های مجتمع
• 14. تکنیک‌های آزمون جریان و توان در چیپلت‌های با توان مصرفی بالا
• 15. شبیه‌سازی و تحلیل حرارتی در طول فرآیند آزمون
• 16. روش‌های تشخیص خطا در اتصالات عمودی و میکرو-بامپ‌ها
• 17. بهینه‌سازی زمان آزمون و کاهش هزینه‌های تولید
• 18. طراحی و پیاده‌سازی زیرساخت‌های تست داخلی (BIST)
• 19. ارزیابی قابلیت اطمینان و آزمون‌های تسریع شده در محیط‌های سخت
• 20. تست امنیت سخت‌افزاری و مقابله با دسترسی‌های غیرمجاز
• 21. بررسی روش‌های تست در سیستم‌های ناهمگون چندتراشه‌ای
• 22. تکنیک‌های عیب‌یابی و تحلیل خرابی در لایه‌های مختلف SiP
• 23. کاربرد هوش مصنوعی و یادگیری ماشین در فرآیندهای تست
• 24. فناوری‌های نوین در تست غیرمخرب بسته‌بندی‌های پیشرفته
• 25. یکپارچه‌سازی پروتکل‌های تست در زنجیره تأمین چیپلت
• 26. مدیریت داده‌های آزمون و تحلیل آماری نتایج تولید
• 27. استراتژی‌های تست برای سامانه‌های مبتنی بر چیپلت در کاربردهای صنعتی
• 28. اصول مستندسازی و استانداردهای گزارش‌دهی در فرآیند آزمون
• 29. آینده‌نگری در توسعه روش‌های تست برای نسل‌های جدید ریزتراشه‌ها