عنوان کتاب به انگلیسی: |
X-Ray Structure Analysis (De Gruyter Textbook) |
| سال انتشار: 2022 | 250 صفحه | حجم فایل: 61 مگابایت | زبان: انگلیسی |
| نویسنده | Theo Siegrist |
| ناشر | De Gruyter |
| ISBN10: | 3110610701 |
| ISBN13: | 9783110610703 |
توضیحات کتاب
This book offers a compact overview on crystallography, symmetry, and applications of symmetry concepts. The author explains the theory behind scattering and diffraction of electromagnetic radiation. X-ray diffraction on single crystals as well as quantitative evaluation of powder patterns are discussed.
توضیحات کتاب به فارسی (ترجمه ماشینی)
این کتاب یک مرور کلی در مورد کریستالوگرافی ، تقارن و کاربردهای مفاهیم تقارن ارائه می دهد.نویسنده تئوری پراکندگی و پراش تابش الکترومغناطیسی را توضیح می دهد.پراش اشعه ایکس در کریستال های منفرد و همچنین ارزیابی کمی از الگوهای پودر مورد بحث قرار گرفته است.
| توجه کنید که این محصول به صورت فایل دانلودی است و نه کتاب کاغذی. |
| به هنگام خرید به زبان درج شده برای کتاب حتما توجه کنید. به صورت معمول در اکثر موارد زبان کتاب فارسی نیست. |
| در صورت هرگونه مشکل در دریافت کتاب به شماره 09395106248 پیامک دهید. |
| درج شماره موبایل برای سفارش ضروری نیست ولی ترجیح آن است درج گردد تا در صورت بروز مشکل اولین راه ارتباطی ما با شما باشد. |
|
چنانچه در دریافت محصول به هر دلیلی با مشکل روبرو شدید و مطمئن از پرداخت موفق وجه هستید به شماره تماس زیر نام، نام خانوادگی و نام محصول را پیامک بزنید تا لینک محصول سریعا برای شما ارسال گردد.
شماره تماس: 09395106248 |
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.